GIS设备出现局部放电的主要原因是其自身存在的绝缘缺陷，因为在生产、运输以及安装设备的过程中难免出现工艺和清洁上的缺陷和差错，这些缺陷会影响GIS设备的可靠性，这些缺陷在电场作用下容易出现局部放电，可能导致GIS设备的绝缘损坏。

GIS中有可能出现的主要绝缘缺陷可以总结为以下几个方面:

1、自身固有缺陷，包括由于制造不良或安装损坏等造成的导体和外壳内表面上的金属突起，以及在固体绝缘表面上的金属微粒。其中，金属突起会导致毛刺而且毛刺较尖。在工频状态下是不会被击穿的，但是在快速电压冲击、快速暂态过电压条件下却很危险。

2、绝缘子在制造过程中可能产生的内部空隙或是由于实验闪络引起的表面痕迹，此外还包括由于金属电极与环氧树脂的收缩系数的不同而形成气泡或空隙。这些GIS设备的绝缘缺陷很有可能会在GIS设备中产生局部放电甚至会腐蚀绝缘材料，并最后导致绝缘击穿。

3、传导部分的接触不良。比如说静电屏蔽还有其它浮动部件。这个原因产生的放电可能性非常大，但是通常都易于检测。

4、GIS的自由金属微粒。金属微粒是GIS中最普遍的微粒，它有积累电荷的能力。在制造、装配以及运行中均有可能产生。金属微粒在交流电压场的影响下会移动，一般情况下运动与放电的可能性是随机的。放电最可能在靠近高压导体但并没有接触时发生，且放电可能性比为固定物的同样微粒高10倍左右。

局部放电既是设备绝缘的劣化征兆，又是造成绝缘劣化的重要原因。因此针对GIS绝缘老化缺陷，公众电气研发的GIS局部放电在线监测系统，本系统利用特高频(UHF)法进行运行状态监测，可大大防止突发性事故的发生，有效延长设备的使用寿命。